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株式会社IHI検査計測

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「INCHEM TOKYO 2017」に出展

2017年11月15日

IICでは下記の展示会に出展いたします。皆様のご来場をお待ち申し上げております。

展示会名称 INCHEM TOKYO 2017
開催期間 2017年11月20日(月)〜11月22日(水)
場所 東京国際展示場(ビッグサイト) 東ホール
ブース番号 2H-12
展示品 AE計測装置(アコースティックエミッション)
鋭敏化度測定器「DOSテスター D-15M」
残留応力測定技術(穿孔法、DHD法、X線回折法他)
レーザークリア(レーザーによるクリーニング装置)
オイルリークモニター他

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