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株式会社IHI検査計測

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X線による残留応力測定

X線を材料に入射させ、その反射X線回析角度から結晶格子定数を求めれば、対象とする原子が判りますが、逆に材料が明らかになっている場合には、格子定数のズレから材料、部材に負荷されている応力が計測できます。当社では、このX線応力計測器の販売、計測サービスを実施しています。装置は小型軽量であり、現場に持参して実機の応力を非破壊で計測できます。

X線回折法は、残留応力測定に多年の実績をもつ定評ある測定法です。この方法は標準となる"長さ"に結晶格子面間隔を用いますから、すべての多結晶性物質を測定することができます。

新開発のX線応力測定器Xstress 3000は、被計測物にきわめて微量のX線を露光して残留応力を測定する"露光検出技術"が最大の特長、最新の半導体技術で、計測の自動化と装置のポータブル化を追求した新世代のX線応力測定器です。

注)当社は、Stresstech Oy (フィンランド)の日本における輸入販売総代理店として、本装置を販売しています。

主な用途

  • 産業用ロボット、NCマシン等の定期点検・メンテナンスに
  • 各種産業機械の定期点検・メンテナンスに
  • 研究所、大学、専門学校等の研究装置として
  • 原子カ発電所、圧カ容器のメンテナンスに
  • 火力・水力発電所夕一ビンのメンテナンスに
  • 宇宙開発関連設備のメンテナンスに
  • 半導体基板の残留応力測定に
  • その他、溶接構造物のメンテナンスに

主な特長

  • 高精度
    2つの検出器を用いて測定するため、すべての試験結果は独立した2つの測定系の平均値で得られる。 α相とγ相を同時計測、残留オーステナイトも即時に測定可能。
  • 高速計測
    回折ピークを2 〜 8秒で記録するほどの高速計測を実現
  • 超コンパクト
    光検出器べ一スのゴニオメーターは超コンパクトで、現場への持ち運びがきわめて容易
  • すぐれた操作性
    最新のコンピュータ技術により高度に自動化されており、柔軟な操作性を実現
  • 安全性
    囲いのない関放状態でX線を操作できるすぐれた安全性を実現
  • すぐれた移動性
    すべての機器をキャスター付き力一トに搭載して、容易に移動させることが可能

4点曲げによるひずみゲージ法による応力計測とX線による応力計測の関係
ひずみゲージ法とX線による応力測定結果の比較(X線回折を用いれば非破壊で応力を計れる)

曲げ負荷とX線応力値との関係
X線による応力値
(kg/mm2
4点曲げによる負荷応力値
(kg/mm2
1.35 0.00
5.26 3.88
9.45 7.76
13.11 11.63
17.05 15.51
20.55 19.39

材質:SS400
ヤング率:211000(MPa)

グラフ
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技術資料に関するご質問、お問い合せ事項がございましたら、下記へご連絡ください。

営業統括部

TEL 03-6404-6033
FAX 03-6404-6044

計測事業部

TEL 045-791-3518
FAX 045-791-3542

技術的な内容に関するご質問等については、下記お問い合わせフォーム(よろず相談)からお願いします。

よろず相談

https://www.iic-hq.co.jp/

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