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株式会社IHI検査計測

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非破壊検査

高精度渦流探傷(ET)欠陥検出技術

高精度渦流探傷(ET)欠陥検出技術

  • 最大検出精度30μm: 深さ方向の欠陥検出が可能です。(従来の検出精度1,000μm)
  • 湾曲部等の特殊形状部位の欠陥検出が可能です。
  • 客先のニーズに合わせたプローブを製作します。
    (最小径:φ2mm〜)
  • 非鉄金属(常磁性金属)の欠陥検出が得意です。
    例)チタン、ステンレス、銅合金

高精度ETと蛍光浸透探傷(ザイグロ)との比較

微少きず検出 目詰まりきずの検出 不連続結晶粒 前処理後処理 記録保存
高精度ET探傷
蛍光浸透探傷
(ザイグロ)
× × × ×

探傷結果波形例

欠陥有り

欠陥無し

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