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株式会社IHI検査計測

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非破壊検査

高精度渦電流探傷(ET)欠陥検出技術

高精度渦電流探傷(ET)欠陥検出技術

渦電流探傷(ET)とは、微小な電流をプローブに流し、金属表面きずを見つける検査手法です。弊社では被検査物の材質および形状に合わせたプローブを製作することが可能で、高精度な表面検査が行えます。他の表面検査(浸透探傷検査、磁粉探傷検査)のように、被検査物表面へ液体、磁粉等を塗布する必要なく、環境に優しい検査です。
検査対象物としては、非鉄金属、磁性金属の一般産業および自動車関係の部品検査に有効です。
(※ 金属表面検査でお悩みの際は、ご相談下さい。)


以下に高精度渦電流探傷(ET)技術のきず検出例を挙げます。

  • 最小きず検出精度:きず深さ30μmのき裂
  • 被検査物形状:湾曲部等の特殊形状に対応
  • 高精度、極小プローブ:最小直径φ2mmプローブ
  • 適応材質:非鉄金属、磁性金属など導電性材料

高精度渦電流探傷(ET)と蛍光浸透探傷(ザイグロ)との比較

微少きず検出 目詰まりきずの検出 不連続結晶粒 前処理後処理 記録保存
高精度ET探傷
蛍光浸透探傷
(ザイグロ)
× × × ×

探傷結果波形例

欠陥有り

欠陥無し

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